高精度源表搭建四探針法測量半導(dǎo)體電阻率實驗認準生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表,詳詢一八一四零六六三四七六;
電阻率是決定半導(dǎo)體材料電學(xué)特性的重要參數(shù),為了表征工藝質(zhì)量以及材料的摻雜情況,需要測試材料的電阻率。半導(dǎo)體材料電阻率測試方法有很多種,其中四探針法具有設(shè)備簡單、操作方便、測量精度高以及對樣品形狀無嚴格要求的特點。因此,目前檢測半導(dǎo)體材料電阻率,尤其對于薄膜樣品來說,四探針是較常用的方法。
四探針測試原理
四探針技術(shù)要求使用四根探針等間距的接觸到材料表面。在外邊兩根探針之間輸出電流的同時,測試中間兩根探針的電壓差。最后,電阻率通過樣品的幾何參數(shù),輸出電流源和測到的電壓值來計算得出。
普賽斯儀表S型源表能四線法測電阻嗎?對線纜要求?
①可以的,使用其四線測量模式;
②四探針測試時一般是恒流測電壓,而所加的電流一般在mA級,所以對線纜基本沒有要求
需要測試的參數(shù):
表面電阻率
需要儀器列表:
S型國產(chǎn)源表
探針臺或夾具
可編程溫箱
軟件
高校相關(guān)專業(yè)
材料專業(yè)
化學(xué)專業(yè)
武漢普賽斯儀表自主研發(fā)的高精度源表(SMU),可以在輸出電流時測試電壓,也可以在輸出電壓時測試電流。輸出電流范圍從皮安級到安培級可控,測量電壓分辨率 高達微伏級。支持四線開爾文模式,適用于四探針測試,可以簡化測試連接,得到準確的測試結(jié)果。
上位機軟件指導(dǎo)電阻率測試步驟,測試方法清晰明確,即使不熟練的工程師也能迅速掌握測試方法。 內(nèi)置電阻率計算公式,測試結(jié)束后直接從電腦端讀取計算結(jié)果,方便靈活的做后續(xù)處理分析系統(tǒng)主要由源測量單元、探針臺和上位機軟件組成。四探針可以通過前面板香蕉頭或者后面板三同軸接口連接到源表上。
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