半導(dǎo)體芯片性能測試儀器認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表,國產(chǎn)自主研發(fā),廠家直銷!性價(jià)比高,測試范圍更廣,輸出電壓高達(dá)300V,支持USB存儲(chǔ),一鍵導(dǎo)出報(bào)告,符合大環(huán)境下國內(nèi)技術(shù)自給的需求,可及時(shí)與客戶溝通,為客戶提供高性價(jià)比系統(tǒng)解決方案,及時(shí)指導(dǎo)客戶編程,加速測試系統(tǒng)開發(fā),詳情請聯(lián)系普賽斯儀表銷售專員為您解答一八一四零六六三四七六
產(chǎn)品特點(diǎn)
5寸800*480觸摸顯示屏,全圖形化操作
內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件,加速用戶完成測試,如LIV、PIV
源及測量的準(zhǔn)確度為0.1%,分辨率5位半
四象限工作(源和肼),源及測量范圍:電流100pA~1A,電壓0.3mV~300V
豐富的掃描模式,支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描
支持USB存儲(chǔ),一鍵導(dǎo)出測試報(bào)告
支持多種通訊方式,RS-232、GPIB及以太網(wǎng)
半導(dǎo)體芯片性能測試儀器技術(shù)參數(shù)
最大輸出功率:30W,4象限源或肼模式;
源限度:電壓源:±30V(≤1A量程),±300V(≤100mA量程);
電流源:±1.05A(≤30V量程),±105mA(≤300V量程);
過量程: 105%量程,源和測量;
穩(wěn)定負(fù)載電容:<22nF;
寬帶噪聲(20MHz):2mV RMS(典型值),<20mV Vp-p(典型值);
線纜保護(hù)電壓:輸出阻抗1KΩ,輸出電壓偏移<80uV;
最大采樣速率:1000 S/s;
觸發(fā):支持IO觸發(fā)輸入及輸出,觸發(fā)極性可配置;
輸出接口:前后面板香蕉頭插座輸出,同一時(shí)刻只能用前或者后面板接口;
通信口:RS-232、GPIB、以太網(wǎng);
電源:AC 100~240V 50/60Hz;
工作環(huán)境:25±10℃;
尺寸:106mm高 × 255mm寬 × 425mm長;
半導(dǎo)體芯片性能測試儀器應(yīng)用
?分立半導(dǎo)體器件特性測試,電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC、GaN等器件;
?能量與效率特性測試,LED/AMOLED、太陽能電池、電池、DC-DC轉(zhuǎn)換器等
?傳感器特性測試,電阻率、霍爾效應(yīng)等
?有機(jī)材料特性測試,電子墨水、印刷電子技術(shù)等
?納米材料特性測試,石墨烯、納米線等
?有關(guān)半導(dǎo)體芯片性能測試儀器的更多信息請咨詢生產(chǎn)廠家普賽斯儀表專員一八一四零六六三四七六
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