LIV 即光電特性,是驗證激光二極管、探測器性能的普遍的方法。在晶圓、切割、管芯、封裝后老化測試過程中,為降低生產(chǎn)成本同時增加產(chǎn)品吞吐量,快速可靠的LIV測試系統(tǒng)對制造光電器件的工廠是很重要的。
根據(jù)Laser Diode工作原理,通常技術(shù)人員要用到電流源來驅(qū)動 LD 工作,產(chǎn)生光的同時用光功率計測量光功率來完成LIV特性測試。在不同的測試階段例如Chip 測試,技術(shù)人員將電流源、電壓表、電流表、開關(guān)、同步觸發(fā)單元、光功率計集成起來才能完成測試,同時老化測試前后需要將每個管芯或模塊的測試數(shù)據(jù)進行比對,大大增加了系統(tǒng)的復雜程度,影響了測試精度和數(shù)據(jù)可靠性。
miniled器件LIV測試數(shù)字源表認準生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表,普賽斯儀表開發(fā)的LIV測試系統(tǒng)采用國產(chǎn)S型數(shù)字源表為核心,結(jié)合測試軟件以及第三方設(shè)備積分球探測器完成LD的LIV測試。系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單、精度高、可靠性好、速度快,提高生產(chǎn)效率的同時也增加了測試精度和可靠性,并且降低了測試成本。
需要測試的參數(shù):
驅(qū)動電流I,正向壓降Vf
光功率Po
閾值電流Ith
拐點Ikink,背光電流Idark
需要儀器列表:
S型國產(chǎn)源表
積分球
可變光源
軟件
高校相關(guān)專業(yè)
微電子,材料專業(yè)
有關(guān)miniled器件LIV測試數(shù)字源表的更多信息請咨詢一八一四零六六三四七六