瓦里安平板探測器
成像平板探測器的設(shè)計一般的X射線數(shù)字成像基于新的千兆位以太網(wǎng)接口,圖像顯示在用戶提供的工作站。
圖像基礎(chǔ)上的應(yīng)用采集從最終用戶的工作站或筆記本電腦上運(yùn)行具有影像成像質(zhì)量高,超薄的探測板,圖像清晰等特點,DR平板探測器是目前X射線X光影像成像設(shè)備中,最清晰的影像成像設(shè)備。
應(yīng)用領(lǐng)域、DR平板探測器被廣泛應(yīng)用于:醫(yī)用工業(yè)、X射線無損檢測成像,醫(yī)學(xué)攝影、造影的行業(yè)。
可檢測:IC、BGA、電容、電阻、二極管、三極管、塑料氣泡、金屬、鑄件裂縫等。
插頭、開關(guān)內(nèi)部結(jié)構(gòu);水筆頭內(nèi)部結(jié)構(gòu);鋰電池頂部焊接;電池外殼裂縫;塑料件、橡膠件內(nèi)部氣孔;開門鎖定內(nèi)部構(gòu)造等。
功能:
1、檢測IC、BGA、芯片、開關(guān)、連接線、插頭等電子元件內(nèi)部結(jié)構(gòu)(位置是否偏移、變形;是否脫焊;是否斷裂等現(xiàn)象);
2、檢測皮鞋、皮包是否有異物(鞋底、鞋面、包內(nèi)及包表面非指定位置有鐵釘、針脫落在內(nèi));
3、內(nèi)部是否有氣孔;內(nèi)部線材是否斷裂;焊接處是否焊牢;
內(nèi)部線材是否在指定位置;
內(nèi)部是否有金屬雜質(zhì),從而導(dǎo)致短路;
本產(chǎn)品為上海迅星電子科技有限公司研發(fā)!
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