SONOSCAN Gen5 C-SAM 超聲波掃描顯微鏡(聲學掃描顯微鏡)
產品簡介
Sonoscan超聲波掃描顯微鏡提供多種成像模式,操作員可以根據(jù)樣品內部取向特征獲得有關檢驗樣品的清晰的***圖。
SONOSCAN Gen5 C-SAM超聲波掃描顯微鏡通過樣品在液晶(Liquid Cristal)和熒光微型熱成像(FMI)的圖像,分析產品內部的失效情況。
Gen5檢測:1.材料內部晶格結構,雜質顆粒,沉淀物;2.內部裂紋;3.分層缺陷;4.空洞、氣泡。
Gen5應用:
Gen5 C-SAM型聲學顯微鏡是新一代聲學顯微成像( AMI )的創(chuàng)新。它具有尖端技術,先進的功能,并改善了人機工程學, 將聲學顯微成像提高到新高度。Gen5具有廣泛的用途。無論是倒裝芯片或晶圓的無損失效分析,工藝程序,研發(fā),高可靠性軍事應用,或者篩選智能卡, Gen5都可以滿足您所有的需求。
Gen5 超聲波掃描顯微鏡主要特征:
虛擬二次掃描模式:收集并以數(shù)字形式儲存廣泛的聲學數(shù)據(jù) 從而可以執(zhí)行完整的樣品分析,即使在沒有可用樣品的情況下,也能進行分析。
TurboSpeed在高頻率下可提供較快成像速度,
在高像素密度下,圖像采集速度可增加2.5X。
數(shù)字圖像分析器 (DIA) 采用先進算法,
量化接口數(shù)據(jù),并幫助建立精確和自動的接受/拒收標準。
ESD安全配備清潔室。
開放式掃描區(qū),方便裝卸測試樣品,
能夠檢測JEDEC的2托盤或者300mm晶圓。
慣性平穩(wěn)掃描裝置不僅能減少振動
并且能夠確保最佳的掃描結果
多語言操作系統(tǒng)和視覺聲學接口。