鎳上鍍銠厚度標準片

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美國Calmetrics Rh/Ni 鎳上鍍銠厚度標準片

鎳上鍍銠鍍層標準片Rh/Ni規(guī)格（可提供特別訂制）：

鎳上鍍銠(Rh/Ni)

Rh/Ni 6.2u〞(0.16um)

Rh/Ni 11u〞(0.28um)

Rh/Ni 21u〞(0.53um)

X射線測厚儀鍍層標準片適用于費希爾Fischer、牛津Oxford、CMI、熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、精工Seiko、島津、電測、納優(yōu)、天瑞、華唯等各廠牌X-ray（X射線測厚儀）的建檔、校準和校驗。

X射線測厚儀鍍層標準片的特色：標準片NIST、A2LA校正認證，質(zhì)量精良，精度高、穩(wěn)定性好;

X射線測厚儀鍍層標準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學(xué)鍍層片。例如：單鍍層：Ag/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx， 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx， 化學(xué)鍍層：Ni-P/xx。（所有標準片都附有NIST證書，具有權(quán)威性）

美國CalMetrics公司是專業(yè)生產(chǎn)X射線熒光金屬鍍層測厚儀標準片，以及對標準片進行重新鑒定，其所有證書都是符合NIST（National Institute of Standards and Technology美國國家標準與技術(shù)研究院）標準或ANSI（American National Standards Institute美國國家標準學(xué)會）標準。

X射線測厚儀鍍層標準片又叫膜厚儀校準片或者薄膜片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的儀器標準化校準及建立測量分析檔案。