半導(dǎo)體博曼X-RAY鍍層膜厚測(cè)試儀是一款可靠的采用X-射線熒光方法和獨(dú)特的微聚焦X-射線光學(xué)方法來測(cè)量和分析微觀結(jié)構(gòu)鍍層的測(cè)量系統(tǒng)。
它的出現(xiàn)解決了分析和測(cè)量日趨小型化的電子部件,包括線路板,芯片和連接器等帶來的挑戰(zhàn)。這種創(chuàng)新技術(shù)的,目前正在申請(qǐng)專利的X-射線光學(xué)可以使得在很小的測(cè)量面積上產(chǎn)生很大的輻射強(qiáng)度,這就可以在小到幾?reg;微米的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行測(cè)量。在經(jīng)濟(jì)上遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于多元毛細(xì)透鏡的BOWMAN專有X-射線光學(xué)設(shè)計(jì)使得能夠在非常精細(xì)的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行厚度測(cè)量和成分分析。博曼膜厚測(cè)試儀可以勝任測(cè)量傳統(tǒng)的鍍層厚度測(cè)量?jī)x器由于X-射線熒光強(qiáng)度不夠而無法測(cè)量到的結(jié)構(gòu)。具有強(qiáng)大功能的X-射線可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達(dá)25種獨(dú)立元素的多鍍層的厚度和成分。有需要的朋友請(qǐng)來電咨詢希望我們能成為長(zhǎng)期的合作伙伴!
博曼膜厚測(cè)試儀主要用于:元素范圍鋁13到鈾92。.x射線激發(fā)能量50 W(50 kv和1 ma)鎢靶射線管.探測(cè)器硅PIN檢測(cè)器250 ev的分辨率或更高的分辨率.測(cè)量的分析層和元素5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個(gè)鍍層成分分析的同時(shí)多達(dá)25元素,美國(guó)Bowman膜厚測(cè)試儀此儀器特別適合于小的鍍層測(cè)量,如端子,連接器,細(xì)小的金線,在五金,汽車配件.線路板.衛(wèi)浴,等行業(yè).需短短數(shù)秒鐘,所有從13號(hào)元素氯到92號(hào)元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測(cè)定.美國(guó)Bowman膜厚測(cè)試儀可測(cè)量:?jiǎn)我诲儗樱篫n, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等
二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
雙鍍層,其中一個(gè)鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。 。
博曼膜厚測(cè)試儀主要檢測(cè)金屬鍍層膜厚厚度的儀器,保證鍍層厚度品質(zhì),減少電鍍成本浪費(fèi)。歡迎前來洽談!