長(zhǎng)春高低溫試驗(yàn)箱主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。本試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行
環(huán)境模擬測(cè)試,測(cè)試后,通過(guò)檢測(cè),來(lái)判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn)
GB 10589 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.1 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2424.1 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
型號(hào)
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GDW-50
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GDW-100
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GDW-150
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GDW-225
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工作室尺寸:mm
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350×350×450
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400×450×550
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500×500×600
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500×600×750
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型號(hào)
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GDW-408
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GDW-800
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GDW-1000
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GDW-1500
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工作室尺寸:mm
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650×750×850
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800×1000×1000
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1000×1000×1000
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1500×1000×1000
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技
術(shù)
參數(shù)
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溫度范圍
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A型-20℃~+100℃(+150℃)/ B型 -40℃~+100℃(+150℃)
C型 -70℃~+100℃
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波動(dòng)度
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≤±0.5℃
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均勻度
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≤2℃
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升溫速率
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1.0~3.0℃/min
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降溫速率
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0.7~1℃/min
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