深圳市西凡謹(jǐn)頓科技有限
公司致力于黃金、鉑金等貴金屬的解決方案,專業(yè)生產(chǎn)了各種型號(hào)的光譜測金儀,力求做到,無損、精確。多年來在珠寶首飾行業(yè)內(nèi)受到廣大用戶的喜愛,銷售額逐年增加,我們的目標(biāo)是為你量身定做一套解決黃金首飾的方案,期待與你的合作。 聯(lián)系人: 曾祥芬 電話:13418624495 QQ:1870554064 分析范圍:1%~99.99%
測量時(shí)間:自適應(yīng) 30~200秒
測量精度:±0.1%
測試環(huán)境:常溫常態(tài)
可分析元素:金(Au),銀(Ag),鉑(Pt),鈀(Pd), 銅(Cu),銠(Rh),釕(Ru),鋅(Zn),鎳(Ni),鎘(Cd),根據(jù)元素能量表可觀察以上出各元素的圖譜。
X射線源:X射線光管(風(fēng)冷無輻射)
測量點(diǎn)尺寸:1~2mm
高壓器:4~50Kv
分析:多通道模擬
電壓:100~127或200~240V,50/60 Hz
尺寸:500*500 *350 mm(最大處)
重量:40kg
操作系統(tǒng):Windows2000/XP
鍍層測量:
鍍層厚度范圍<30μm
最大測量層數(shù):5層
測量精度:0.03μm
儀器配置:
X光管
正比計(jì)數(shù)探測器
高壓電源
放大電路
攝像定位系統(tǒng)