環(huán)境和可靠性試驗室能按以下標準進行試驗:
GB/T2423.1-2001《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫》
GB/T2423.2-2001《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫》
GB/T2423.3-2006《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗》
GB/T 2423.4-1993《 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db:交變濕熱試驗方法》
GB/T 2423.6-1995 《電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eb和導則:碰撞》
GB/T2423.10-2008《 電工電子產品環(huán)境試驗 第二部分 試驗方法 試驗Fc和導則 振動(正弦) 》
GB/T2423.11-1997《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fd:寬頻帶隨機振動-一般要求》
GB/T2423.5-1995《 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Ea和導則: 沖擊》
GB/T 2423.8-1995《 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落》
GB/T 2423.11-1997 《電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fd:寬頻帶隨機振動-一般要求》
GB/T 2423.12-1997 《電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fda:寬頻帶隨機振動-高再現性》
GB/T 2423.13-1997《 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fdb:寬頻帶隨機振動-中再現性》
GB/T 2423.14-1997《 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗FdC:寬頻帶隨機振動-低再現性》
GB/T 2423.17-1993 《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ka:鹽霧試驗方法》
GB/T 2423.18-2001 《電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗 試驗Kb:鹽霧,交變(氯化 鈉溶液)》
GB 5080.7-86 《設備可靠性試驗恒定失效率假設下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案》
GJB150.3-86 《軍用設備環(huán)境試驗方法 高溫試驗》
GJB150.4-86 《軍用設備環(huán)境試驗方法 低溫試驗》
GJB150.5-86 《軍用設備環(huán)境試驗方法 溫度沖擊試驗》
GJB150.11-86 《軍用設備環(huán)境試驗方法 鹽霧試驗》
GJB150.16-86 《軍用設備環(huán)境試驗方法 振動試驗》
GJB150.18-86 《軍用設備環(huán)境試驗方法 沖擊試驗》
GJB322A-98 《軍用計算機通用規(guī)范》
GJB367A-2001 《軍用通信設備通用規(guī)范》
TB/T3058-2002《鐵路應用 機車車輛設備沖擊和振動試驗》
GB6587.1-86《電子測量儀器環(huán)境試驗總綱》
GB6587.2-86《電子測量儀器溫度試驗》
GB6587.3-86《電子測量儀器濕度試驗》
GB6587.4-86《電子測量儀器振動試驗》
GB6587.5-86《電子測量儀器沖擊試驗》
GB6587.6-86《電子測量儀器運輸試驗》等。