高端黃金檢測(cè)儀深圳西凡

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硬件獨(dú)特性: 雙屏顯示設(shè)計(jì)，造型時(shí)尚專(zhuān)業(yè)，帶多節(jié)點(diǎn)預(yù)啟動(dòng)裝置和實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)；帶門(mén)鎖電鎖，使得日常管理更便捷；已集成工業(yè)級(jí)計(jì)算機(jī)，無(wú)需再外接電腦；加裝自動(dòng)防輻射泄漏裝置，主動(dòng)性的保證使用人員安全；帶電動(dòng)開(kāi)蓋裝置，令測(cè)試更輕松。超高的分辨率可輕松解決貴金屬行業(yè)無(wú)損分析的任何復(fù)雜要求。為貴金屬行業(yè)性?xún)r(jià)比最好的頂級(jí)光譜儀。 激發(fā)源：Mo靶的X光管 風(fēng)冷 (無(wú)輻射） 測(cè)量點(diǎn)尺寸：1～2mm 樣品室: 長(zhǎng)400 mm×寬: 300mm×高: 0～90 mm樣品放大成像系統(tǒng) 軟件：XRF6.0菜單式軟件，帶硬件參數(shù)調(diào)整和數(shù)據(jù)評(píng)估及計(jì)算 探測(cè)器：Si-PIN 探測(cè)器 其它規(guī)格： 電壓：交流220V/50Hz 最大功率:144W 最大處尺寸:500mm*500mm*400mm 重量:30kg 技術(shù)指標(biāo)： 分析范圍：0.001%～99.999% 測(cè)量時(shí)間：自適應(yīng) 測(cè)量精度： ± 0.001%--0.1% 分辨率 ：120-170eV at Mn K-aipha 測(cè)試環(huán)境：常溫常態(tài) 分析元素：除貴金屬常含元素和銥、鋨等鉑族重金屬能全面測(cè)試外，該型號(hào)還能對(duì)從AL至U的所有元素進(jìn)行分析，實(shí)為貴金屬行業(yè)常量分析中的實(shí)驗(yàn)室級(jí)光譜儀。 X射線源：X射線光管 高壓器：4～80Kv 分析：多通道模擬 操作系統(tǒng):Windows2000/Me/XP 鍍層測(cè)量： 鍍層厚度范圍<30μm 可測(cè)量元素種類(lèi)：金Au 、銀Ag 、鉑Pt 、鈀Pd、銠Rh 、釕Ru 、銅Cu 、鋅Zn 、鎳Ni 、鎘Cd、銦In另外對(duì)銥Ir,鋨OS等70多種元素。 最大測(cè)量層數(shù)：5層 測(cè)量精度：0.03μm 廠家：深圳市西凡謹(jǐn)頓科技有限公司 地址：深圳市寶安區(qū)25區(qū)華豐商貿(mào)城5樓A15 區(qū)域經(jīng)理：曾祥芬 手機(jī)：134 1862 4495