深圳市西凡謹(jǐn)頓科技有限
公司致力于黃金、鉑金等貴金屬的解決方案,專業(yè)生產(chǎn)了各種型號(hào)的光譜測(cè)金儀,力求做到,無(wú)損、精確。多年來(lái)在珠寶首飾行業(yè)內(nèi)受到廣大用戶的喜愛(ài),銷售額逐年增加,我們的目標(biāo)是為你量身定做一套解決黃金首飾的方案,期待與你的合作。 聯(lián)系人:金承義 13538218521 QQ:1005075059 技術(shù)指標(biāo):
分析范圍:0.001%~99.999%
測(cè)量時(shí)間:自適應(yīng)
測(cè)量精度: ± 0.001%--0.1%
分辨率 :120-170eV at Mn K-aipha
測(cè)試環(huán)境:常溫常態(tài)
分析元素:除貴金屬常含元素和銥、鋨等鉑族重金屬能全面測(cè)試外,該型號(hào)還能對(duì)從AL至U的所有元素進(jìn)行分析,實(shí)為貴金屬行業(yè)常量分析中的實(shí)驗(yàn)室級(jí)光譜儀。
X射線源:X射線光管
高壓器:4~80Kv
分析:多通道模擬
操作系統(tǒng):Windows2000/Me/XP
鍍層測(cè)量:
鍍層厚度范圍<30μm
可測(cè)量元素種類:金Au 、銀Ag 、鉑Pt 、鈀Pd、銠Rh 、釕Ru 、銅Cu 、鋅Zn 、鎳Ni 、鎘Cd、銦In另外對(duì)銥Ir,鋨OS等70多種元素。
最大測(cè)量層數(shù):5層
測(cè)量精度:0.03μm