鋁電解

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鋁電解電容的失效機(jī)理

1.漏液

 在正常的使用環(huán)境當(dāng)中，經(jīng)過一段時間密封便可能出現(xiàn)泄漏。通常，溫度升高、振動或密封的缺陷等都有可能加速密封性能變壞。漏液的結(jié)果是電容值下降、等效串聯(lián)電阻增大以及功率耗散相應(yīng)增大等。漏液使工作電解液減少，喪失了修補(bǔ)陽極氧化膜介質(zhì)的能力，從而喪失了自愈作用。此外，由于電解液呈酸性，漏出的電解液還會污染和腐蝕電容器周圍其他的元器件及印刷電路板。

2.介質(zhì)擊穿

 鋁電解電容器擊穿是由于陽極氧化鋁介質(zhì)膜破裂，導(dǎo)致電解液直接與陽極接觸而造成的。氧化鋁膜可能因各種材料、工藝或環(huán)境條件方面的原因而受到局部損傷，在外電場的作用下工作電解液提供的氧離子可在損傷部位重新形成氧化膜，使陽極氧化膜得以填平修復(fù)。但是如果在損傷部位存在雜質(zhì)離子或其他缺陷，使填平修復(fù)工作無法完善，則在陽極氧化膜上會留下微孔，甚至可能成為穿透孔，使鋁電解電容擊穿。工藝缺陷如陽極氧化膜不夠致密與牢固，在后續(xù)的鉚接工藝不佳時，引出箔條上的毛刺刺傷氧化膜，這些刺傷部位漏電流很大，局部過熱使電容器產(chǎn)生熱擊穿。

鋁電解電容選型要點(diǎn)：介質(zhì)損耗

 電容器在電場作用下消耗的能量，通常用損耗功率和電容器的無功功率之比，即損耗角的正切值表示（在電容器的等效電路中，串聯(lián)等效電阻ESR 同容抗 1/ωC 之比稱之為 Tan δ，這里的 ESR 是在 120Hz 下計(jì)算獲得的值。顯然，Tan δ隨著測量頻率的增加而變大，隨測量溫度的下降而增大）。損耗角越大，電容器的損耗越大，損耗角大的電容不適于高頻情況下工作。散逸因數(shù)dissipationfactor(DF)存在于所有電容器中，有時DF值會以損失角tanδ表示。此參數(shù)愈低愈好。但鋁電解電容此參數(shù)比較高。

 DF值是高還是低，就同一品牌、同一系列的電容器來說，與溫度、容量、電壓、頻率……都有關(guān)系；當(dāng)容量相同時，耐壓愈高的DF值就愈低。此外溫度愈高DF值愈高，頻率愈高DF值也會愈高。

 外型尺寸

 外型尺寸與重量及接腳型態(tài)相關(guān)。single ended是徑向引線式，screw是鎖螺絲式，另外還有貼片鋁電解電容等。至於重量，同容量同耐壓，但品牌不同的兩個電容做比較，重量一定不同；而外型尺寸更與外殼規(guī)劃有關(guān)。一般來說，直徑相同、容量相同的電容，高度低的可以代用高度大的電容，但是長度高的替代低的電容時就要考慮機(jī)構(gòu)干涉問題。

 額定電壓

 鋁電解電容本體上標(biāo)有的容量和耐壓，這兩個參數(shù)是很重要，是選用電容最基本的內(nèi)容。

在實(shí)際電容選型中，對電流變化節(jié)奏快的地方要用容量較大的電容，但并非容量越大越好，首先，容量增大，成本和體積可能會上升，另外，電容越大充電電流就越大，充電時間也會越長。這些都是實(shí)際應(yīng)用選型中要考慮的。

 電解電容的使用環(huán)境有問題對壽命的影響

 電容器塑料外殼利用環(huán)境有問題，比方環(huán)境電壓不穩(wěn)，機(jī)內(nèi)溫度散熱不良，橋式整不良等，別的有部門功放機(jī)對電解電容選取時沒有按電路計(jì)劃要求選對型號，導(dǎo)致電解電容器不切合電路要求，比方：高頻低阻，低泄電，耐紋波，低電感，耐高溫等。

 沒有選取對應(yīng)電路特性電解電容器，對付電源是H類和電解電容器要串并聯(lián)利用更要合理選取，要是說選取不妥將導(dǎo)致許多問題，現(xiàn)在大多數(shù)功放為了節(jié)省成本對電源變壓器功率選取偏低，導(dǎo)致電解電容器充放電幅度加大，這樣選取時要越發(fā)過細(xì)選擇得當(dāng)電路特性的電解電容。

 比方：串聯(lián)利用時要求電解電容器電性參數(shù)劃一性要好，特別是泄電和阻抗感抗，對付H類和多級供電要求電解電容器必須是低阻低電感并且要選擇105℃產(chǎn)品等。

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