對鑲嵌屏用擊穿電壓測試儀進行絕緣強度試驗。試驗電壓從零起始,在5s內(nèi)逐漸升到規(guī)定值并保持1min,隨后迅速平滑地降到零值。測試完畢斷電后用接地線對被試品進行安全放電。
對有半導(dǎo)體器件的電路,在進行絕緣強度試驗時應(yīng)采取防護措施,如拔出有關(guān)插件或短接有關(guān)電路等。
6.10 低溫試驗
低溫室的溫度偏差不大于±2℃,在低溫室內(nèi)試件各表面與相應(yīng)的室內(nèi)壁之間的最小距離不小于150mm。低溫室以不超過1℃/min速度降溫,待溫度達到5℃并穩(wěn)定后開始計時,保溫2h,再使試件連續(xù)通電2h(電源電壓為額定值),進行功能檢查,應(yīng)能正常工作。然后將試件斷電,以不超過1℃/min速度升溫,待室內(nèi)溫度恢復(fù)到正常溫度并穩(wěn)定后,將試件取出低溫室進行外觀檢查。試驗細節(jié)按GB2423·1“試驗Ad”規(guī)定進行。
6.11 高溫試驗
高溫室的溫度偏差不大于±2℃,相對濕度不超過50%(35℃)。在高溫室內(nèi),試件各表面與相應(yīng)的室內(nèi)壁之間的最小距離不小于150mm,高溫室以不超過1℃/min速度升溫,待溫度達到40℃并穩(wěn)定后開始計時,保溫2h。再使試件連續(xù)通電2h(電源電壓為額定值),檢查試件的各種功能應(yīng)正常。然后將試件斷電,以不超過1℃/min速度降溫;待室內(nèi)溫度恢復(fù)到正常溫度并穩(wěn)定后,將試件取出高溫室進行外觀檢查。試驗細節(jié)按GB2423·2“試驗Bd”規(guī)定進行。
6.12 濕熱試驗
試驗室的溫度偏差不大于±2℃,相對濕度偏差不大于±2%,裝置各表面與相應(yīng)的室內(nèi)壁之間最小距離不小于150mm,凝結(jié)水不得滴落到試驗樣品上。試驗室以不超過1℃/min速度升溫,待溫度達到40℃,并穩(wěn)定后再加濕到90%~95%范圍內(nèi),保持48h。在試驗過程最后的1~2h內(nèi),按5.4.1條規(guī)定用500V兆歐表測量絕緣電阻,測量時間不小于5s。
試驗結(jié)束后,先把試驗室內(nèi)的相對濕度在半小時內(nèi)降到75%±3%,然后在半小時內(nèi)將試驗室的溫度恢復(fù)到正常溫度并穩(wěn)定后,將試件取出試驗室進行外觀檢查。試驗細節(jié)按GB2423·3進行。
注:對不便進行整機試驗的大型產(chǎn)品,上述的6.10、6.11、6.12條各項試驗可僅對其關(guān)鍵部件進行試驗。
6.13 電源影響試驗
在試驗大氣條件下,按5.4.4條規(guī)定的電源偏差,鑲嵌屏應(yīng)可靠工作,其性能應(yīng)符合技術(shù)要求。
6.14 振動試驗
根據(jù)5.1.2條要求,按GB2423·10在三個互相垂直的軸線上依次進行掃頻試驗,每軸線掃頻循環(huán)20次,應(yīng)保持試件的結(jié)構(gòu)完好性和工作能力。
6.15 亮度試驗
用屏幕亮度計測量燈光顯示元件亮度,應(yīng)符合5.4.5條規(guī)定。