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參照標(biāo)準(zhǔn):
按GB/T2423.17-2008、《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 KC:鹽霧試驗方法》
GB/T2423.1-2008、《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 A:高溫試驗方法》
GB/T2423.3-2006、《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 恒溫恒濕試驗方法》國家標(biāo)準(zhǔn)。
鹽霧/恒溫恒濕/高溫綜合試驗箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件在高低溫或濕熱環(huán)境下、檢驗其各性能項指標(biāo)。鹽霧造用于零部件、電子元件、金屬材料的防護(hù)層以及工業(yè)產(chǎn)品的鹽霧腐蝕試驗.
一. 技術(shù)參數(shù)
A、鹽霧試驗
1、溫度范圍:35℃~55℃
2、濕度范圍:95~98%R?H
3、空氣飽和器:RT+10℃~60℃
4、溫度均勻度:±2℃
5、溫度波動度:±0.5℃
6、鹽霧沉降量:1~2ml/80cm2 ? h
B、恒溫恒濕試驗
1、溫度范圍:RT+10℃~+100℃
2、濕度范圍:85~98%R?H
3、溫度均勻度:±2℃ (空載時)
4、濕度均勻度:±3%R?H
5、溫度波動度:±0.5℃(空載時)
6、濕度波動度:±0.5%
7、溫度偏差:±2℃
8、濕度偏差:±2%